耐壓測試儀在電路設計和工業生產中,電路主要由低壓震蕩電路升壓電路和半導體器件耐壓測試電路四部分組成,半導體器件工作耐壓測試儀在反向偏置狀態時,回存在微小的漏電流,存在耐壓上限。當反向電壓超過耐壓值事,很可能造成半導體器件擊穿或發熱損壞。在使用半導體器件時,器件的耐壓值是一個重要的參數,而半導體器件耐壓測試儀也是電路設計和工業生產中常用的測量儀器之一。
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